उच्च कार्बन सिलिकॉन के सिलिकॉन सामग्री परीक्षण के तरीके

सिलिकॉन, कार्बन और सिलिकॉन सामग्री परीक्षण विधियाँ

रासायनिक विश्लेषण विधियाँ।
ग्रेविमेट्रिक विधि: एक सिलिकॉन, कार्बन, और सिलिकॉन नमूना सिलिकॉन को एक वजन योग्य पदार्थ में बदलने के लिए रासायनिक प्रतिक्रियाओं की एक श्रृंखला से गुजरता है, जैसे कि सिलिकॉन डाइऑक्साइड। नमूना पहले भंग कर दिया गया है, और सिलिकॉन को अवक्षेपित करने के लिए विशिष्ट अभिकर्मकों को जोड़ा जाता है। तब अवक्षेप को फ़िल्टर किया जाता है, सूख जाता है, और तौला जाता है। मापा वजन का उपयोग नमूने में सिलिकॉन सामग्री की गणना करने के लिए किया जाता है। यह विधि अपेक्षाकृत सीधी है, लेकिन प्रक्रिया थकाऊ है, सावधानी की आवश्यकता है, और समय - उपभोग करता है।

वॉल्यूमेट्रिक विधि: नमूना भी पहले एक समाधान में भंग कर दिया जाता है। सिलिकॉन के साथ रासायनिक रूप से प्रतिक्रिया करने वाले अभिकर्मकों का उपयोग किया जाता है, और ये अभिकर्मक एक स्टोइकोमेट्रिक संबंध में सिलिकॉन के साथ प्रतिक्रिया करते हैं। उदाहरण के लिए, सिलिकॉन प्रतिक्रिया उत्पाद के साथ प्रतिक्रिया करने के लिए ज्ञात एकाग्रता के एक एसिड या आधार समाधान का उपयोग किया जाता है। सिलिकॉन सामग्री की गणना एसिड या बेस सॉल्यूशन की मात्रा के आधार पर की जा सकती है। यह विधि अपेक्षाकृत तेज है, लेकिन उच्च तकनीकी कौशल की आवश्यकता होती है, जिसमें प्रतिक्रिया की स्थिति और अनुमापन समापन बिंदु के सटीक नियंत्रण की आवश्यकता होती है।

इंस्ट्रूमेंटल एनालिसिस मेथड्स।

स्पेक्ट्रोस्कोपिक विश्लेषण विधि। परमाणु उत्सर्जन स्पेक्ट्रोमेट्री (एईएस): एक सिलिकॉन, कार्बन, या सिलिकॉन नमूना बहुत अधिक तापमान तक गर्म होता है, इसके भीतर परमाणुओं को रोमांचक। ये उत्साहित परमाणु तब एक विशिष्ट तरंग दैर्ध्य के प्रकाश का उत्सर्जन करते हैं। इंस्ट्रूमेंट्स नमूने और उनकी सांद्रता में तत्वों को निर्धारित करने के लिए इस प्रकाश की तरंग दैर्ध्य और तीव्रता की निगरानी करते हैं। सिलिकॉन, कार्बन या सिलिकॉन नमूने में सिलिकॉन सामग्री की गणना सिलिकॉन परमाणुओं द्वारा उत्सर्जित प्रकाश की तीव्रता की तुलना करके एक ज्ञात सिलिकॉन सामग्री के साथ एक मानक नमूने के साथ की जाती है। यह विधि एक साथ कई तत्वों को माप सकती है और तेज और अत्यधिक संवेदनशील है।

इंडिकली युग्मित प्लाज्मा ऑप्टिकल एमिशन स्पेक्ट्रोमेट्री (ICPAES): यह विधि नमूने में परमाणुओं को उत्तेजित करने के लिए एक उत्कृष्ट युग्मित प्लाज्मा (ICP) का उपयोग करती है। प्लाज्मा का उच्च तापमान नमूने के भीतर परमाणुओं को पूरी तरह से उत्तेजित करता है। एईएस के समान, सिलिकॉन सामग्री का विश्लेषण उत्सर्जित प्रकाश की निगरानी करके किया जाता है। यह विधि मानक एई की तुलना में अधिक उन्नत है, उच्च परिशुद्धता की पेशकश, अधिक तत्वों को मापने की क्षमता, और हस्तक्षेप को कम करना।

X - किरण प्रतिदीप्ति स्पेक्ट्रोमेट्री (xrf): x - किरणें एक सिलिकॉन, कार्बन या सिलिकॉन नमूने पर विकिरणित होती हैं। नमूने के भीतर परमाणु x - किरण ऊर्जा को अवशोषित करते हैं और फिर फ्लोरोसेंट x - किरणों का उत्सर्जन करते हैं। विभिन्न तत्व फ्लोरोसेंट x - अलग -अलग ऊर्जा और तरंग दैर्ध्य के साथ किरणों का उत्सर्जन करते हैं। इन फ्लोरोसेंट x - किरणों की विशेषताओं का पता लगाकर, हम एक नमूने और उनकी सांद्रता में मौजूद तत्वों को निर्धारित कर सकते हैं।
सिलिकॉन, कार्बन और सिलिकॉन के लिए, सिलिकॉन सामग्री को सिलिकॉन द्वारा उत्सर्जित विशेषता फ्लोरोसेंट x - किरणों के आधार पर निर्धारित किया जा सकता है। यह विधि नमूने को नष्ट नहीं करती है और जल्दी से कई तत्वों की सांद्रता पर जानकारी प्राप्त कर सकती है, लेकिन प्रकाश तत्वों के लिए इसकी सटीकता अपेक्षाकृत कम है।

एनर्जी डिस्पर्सिव स्पेक्ट्रोस्कोपी (ईडीएस): यह आमतौर पर एक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के साथ संयोजन में उपयोग किया जाता है। जब एक इलेक्ट्रॉन बीम को सिलिकॉन, कार्बन, या सिलिकॉन के नमूने पर निर्देशित किया जाता है, तो नमूना में तत्व विशेषता x - किरणों का उत्पादन करते हैं। ऊर्जा फैलाव स्पेक्ट्रोमीटर का उपयोग इन x - किरणों की ऊर्जा और तीव्रता का पता लगाने के लिए किया जाता है। विशेषता x - किरणों की तीव्रता जैसी जानकारी के आधार पर, नमूने में सिलिकॉन सामग्री निर्धारित की जा सकती है। यह विधि एक साथ नमूना के सूक्ष्म आकृति विज्ञान का अवलोकन करते हुए मौलिक विश्लेषण की अनुमति देती है, लेकिन इसकी सटीकता आमतौर पर बहुत अधिक नहीं होती है। यह अर्ध - मात्रात्मक विश्लेषण या जल्दी से मौलिक संरचना का निर्धारण करने के लिए उपयुक्त है।

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